kla量測
半導體III-V 族- KLA-Tencor 美商科磊- P7 / P17 / P17OF 接觸式表面/膜厚量測儀 ... 在探針掃描的運動軌跡橫過物體表面，並利用一導體感測器記錄了針尖的垂直運動變化，經由針尖運動產生訊號，可以顯示待測物體的二維表面輪廓。 特點: icon, 此機台是利用鑽石所製作的尖頭探針去掃描物體的表面，以得到表面輪廓的資訊。在探針 ... ,半導體III-V 族- KLA-Tencor 美商科磊- HRP 250 全自動高解析度表面/膜厚量測儀. HRP 250 全自動高解析度表面/膜厚量測儀. 量測表面的形狀，可顯示高度、深度及寬度。 特點: icon ... 在探針掃描的運動軌跡橫過物體表面，並利用一導體感測器記錄了針尖的垂直運動變化，經由針尖運動產生訊號，可以顯示待測物體的二維表面輪廓。
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量測表面的形狀，可顯示高度、深度及寬度。 特點: icon, 此機台是利用鑽石所製作的尖頭探針去掃描物體的表面，以得到表面輪廓的資訊。在探針掃描的運動軌跡橫過物體表面，並利用一導體感測器記錄了針尖的垂直運動變化，經由針尖運動產生訊號，可以顯示待測物體的二維表面輪廓。 標準規範: icon, SEMI S2, S8, and S14 http://www.scientech.com.tw P7 P17 P17OF 接觸式表面膜厚量測儀 - 辛耘企業
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KLA-Tencor美商科磊股份有限公司為一專業設備廠，專精於提Semiconductor, Data storage, LED, Photovoltaic, and other related Nanoelectronics industries製程良率及提供製程控管量測整體方案。自1976年在美國加州成立以來，不斷致力於產品研究與發展，提供更完善的設備服務，更協助客戶創造高品質、高效能之產值。... http://www.scientech.com.tw KLA-Tencor推出4款全新量測系統 - Digitimes
KLA-Tencor推出4款全新量測系統. 吳冠儀; 2017-03-30. KLA-Tencor公司針對次10奈米(sub-10nm)積體電路(IC)元件的開發和量產推出4款創新的量測系統，Archer600疊對量測系統，WaferSight PWG2圖案化晶圓幾何形狀測量系統，SpectraShape 10K光學線寬(CD)量測系統和SensArray HighTemp 4mm即時溫度測量系統... https://www.digitimes.com.tw KLA-Tencor 兩款新量測設備，支援16 奈米積體電路生產| TechNews ...
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KLA-Tencor Corporation 在5 日推出兩款先進的量測設備，可支援16 奈米（含）以下尺寸積體電路元件的研發和生產：Archer™ 500LCM 和SpectraFilm™ LD10。Archer 500LCM overlay 測量設備在提升良率的所有階段提供了準確的overlay error 回饋，可協助晶片製造商解決與patterning 創新技術，例如multi-patte... https://technews.tw KLA-Tencor線上服務加速量測機台運作 - 電子工程專輯
為加速量測機台運作能力，KLA-Tencor最近推出了線上程式支援服務(Online Recipe Services)，未來用戶可透過線上全球的KLA-Tencor應用程式專家獲得協助。該服務是運用KLA-Tencor的高度安全網路iSupport，可提供專家現場支援、全天候線上支援以及內建在每個KLA-Tencor機台中的電子診斷功能。 https://www.eettaiwan.com KLA-Tencor新薄膜量測機台適用於45nm及以下製程 - 電子工程專輯
KLA-Tencor推出Aleris系列薄膜量測機台，此系列由Aleris 8500開始，同時結合多層薄膜厚度與成分量測的專業量產型機台。其他的Aleris系列機台將在未來幾個月內以不同配備組合推出，以滿足45奈米node或更小尺寸製程中，對於薄膜量測的性能與量產成本控制的要求。 https://archive.eettaiwan.com |