shadow moire量測
特性簡述如下:. 1. 可以測量形狀,也可以測量變形。 2. 方法直觀,直接顯示等高線。 3. ,2D/3D表面輪廓及翹曲量測系統. 獨特特性: 非接觸式、非破壞性檢測法,利用陰影疊紋來量測物體的表面輪廓以及光柵疏 ... Use shadow moire to measure the profile
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shadow moire量測 相關參考資料
Akrometrix - 熱變形外貌檢測儀: teltec.asia
http://www.teltec.asia Shadow Moire
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論文名稱(中文), 應用相位移陰影疊紋量測高溫下晶圓的變形. 論文名稱(英文), Use of Phase-Shifting Shadow Moire Method to Measure the Deformation of Wafer at ... http://etds.lib.ncku.edu.tw 半導體構裝體於 - 國立中山大學學位論文
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應用自動化相位移陰影疊紋系統量測晶圓外型. Use of Automatic Phase-Shifting Shadow Moire System to Measure the Shape of Wafer. 莊佳橙 , 碩士指導教授: ... https://www.airitilibrary.com |