SiN 蝕刻

腔體內因沉積二氧化矽(SiO2)或氮化矽(SiN),會使用蝕刻反應氣體CF4 與SiO2. 反應產生SiF4,隨真空pump 抽除,以達到腔體清潔效果。 CF4. 2F(g)+CF2(g). ,蝕刻(Etching). ▫. 表面物質去除化...

SiN 蝕刻

腔體內因沉積二氧化矽(SiO2)或氮化矽(SiN),會使用蝕刻反應氣體CF4 與SiO2. 反應產生SiF4,隨真空pump 抽除,以達到腔體清潔效果。 CF4. 2F(g)+CF2(g). ,蝕刻(Etching). ▫. 表面物質去除化的製程: 化學蝕刻、物理蝕刻、複合蝕刻. ▫. 選擇性蝕刻或整面全區蝕刻. ▫. 選擇性蝕刻將IC光阻上的設計圖形轉移至晶圓表面層. ▫.

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SiN 蝕刻 相關參考資料
半導體製程及原理

再經蝕刻程序獲得各不同區,以便進行植入、擴散等前幾節所敘述的步驟。表1.2所列 ... 10ml HNO3 P-蝕刻. 300ml H2O. 1000A/min. 120 A/min. SiN4. HF緩衝溶液.

http://www2.nsysu.edu.tw

第一章緒論 - 國立交通大學機構典藏

腔體內因沉積二氧化矽(SiO2)或氮化矽(SiN),會使用蝕刻反應氣體CF4 與SiO2. 反應產生SiF4,隨真空pump 抽除,以達到腔體清潔效果。 CF4. 2F(g)+CF2(g).

https://ir.nctu.edu.tw

Etching

蝕刻(Etching). ▫. 表面物質去除化的製程: 化學蝕刻、物理蝕刻、複合蝕刻. ▫. 選擇性蝕刻或整面全區蝕刻. ▫. 選擇性蝕刻將IC光阻上的設計圖形轉移至晶圓表面層. ▫.

http://homepage.ntu.edu.tw

「面板製程刻蝕」史上最全Dry Etch分類、工藝基本原理及良率 ...

如下圖所示,純粹的化學蝕刻通常沒有方向選擇性,上下左右刻蝕速度相同,蝕刻後將形成圓弧 ... SF6:F元素的供給源,刻蝕SiN、SiO用的主要氣體。

https://kknews.cc

半導體濕蝕刻製程-SiN | Yahoo奇摩知識+

如題 如果要用濕蝕刻方式除去SiN 主要使用的藥液有哪些? 如果可以詳細說明為什麼那些藥液可以除去 (如哪些成份可以帶走除去哪些成份等等) 是最好不過了 謝謝.

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III-V及金屬材料蝕刻系統 - 微奈米科技研究中心

本中心有三套電漿蝕刻系統,1201反應式離子蝕刻機(Reactive Ion ... 二氧化矽(SiO2)、氮化矽(SiN)與多晶矽(Poly-Si)等材料;編號1205的金屬蝕刻系統是以氯氣電 ...

http://cmnst.ncku.edu.tw

RCA clean 製程 - 弘塑科技股份有限公司

(3)緩衝溶液混合比例:其中HF比例愈高,蝕刻率愈快。 矽層蝕刻 (Silicon Etching), 在目前製程上多使用硝酸(HNO3)、氫氟酸(HF)及醋酸 ...

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Chap9 蝕刻(Etching)

分,以化學反應或物理作用的方式加以去除,已完成轉移光罩. 圖案到薄膜的目的. ◇換句話說,光罩上面的圖案,是藉由. 微影製程而轉到光阻上,然後再利用. 蝕刻,來 ...

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第二章基礎VLSI製程模組技術 - NTNU MNOEMS Lab. 國立台灣 ...

▫SiO2的蝕刻幕罩(mask),並可作為矽晶圓以KOH蝕刻,製作矽微結構時的蝕 ... SiN x. :H. (s). + +3H. 2 (g) x: 0.8~1.2. RF+N2(g). (應力問題說明). (Silane). 易爆炸.

http://mems.mt.ntnu.edu.tw

第三章應用理論與技術 - 國立臺灣師範大學

廣泛應用於微機電製程技術的非等向性溼式蝕刻技術,其蝕刻特性主要是. 由於矽的晶格 ... 程,對於氧化矽(SiO)及氮化矽(SiN)等介電材料蝕刻率低,Ti、Al、Cr、Au及.

http://rportal.lib.ntnu.edu.tw