熱載子效應溫度

高介電係數 ; 金屬閘極 ; 介電層 ; 閘極後製程 ; 熱載子效應 ; gate leakage ... 在此研究中,量測實驗參數包括不同通道長度和加熱溫度;再依實驗數據,進行統整與 ... ,長久以來,通道熱載子(channe...

熱載子效應溫度

高介電係數 ; 金屬閘極 ; 介電層 ; 閘極後製程 ; 熱載子效應 ; gate leakage ... 在此研究中,量測實驗參數包括不同通道長度和加熱溫度;再依實驗數據,進行統整與 ... ,長久以來,通道熱載子(channel-hot-carrier, CHC)效應一直是金氧半場效電 ... 以25、85及125 ℃三個溫度進行,並觀察不同的通道寬度對通道熱載子可靠度的影響。

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熱載子效應溫度 相關參考資料
热载流子效应_百度百科

由于热载流子所造成的一些影响,就称为热载流子效应。... ... 加热”到能量kTe达到0.31eV时(Te是所谓热载流子温度),即从主能谷跃迁到次能谷,从而产生负阻现象。

https://baike.baidu.com

不同氮化退火溫度下對High-k堆疊金屬閘極nMOSFETs之特性分析與熱 ...

高介電係數 ; 金屬閘極 ; 介電層 ; 閘極後製程 ; 熱載子效應 ; gate leakage ... 在此研究中,量測實驗參數包括不同通道長度和加熱溫度;再依實驗數據,進行統整與 ...

http://www.airitilibrary.com

65nm寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討__臺灣博碩士 ...

長久以來,通道熱載子(channel-hot-carrier, CHC)效應一直是金氧半場效電 ... 以25、85及125 ℃三個溫度進行,並觀察不同的通道寬度對通道熱載子可靠度的影響。

https://ndltd.ncl.edu.tw

90 nm 節點MOSFETs之熱載子及偏壓溫度不穩定性效應

Keyword: 熱載子 ; 偏壓溫度不穩定性 ; 閘二極體 ; 介面狀態 ; 氧化層陷入電荷 ... Abstract: 熱載子(hot carrier, HC)效應是個主要的可靠度問題,在早期的研究中,金 ...

https://ir.lib.ntut.edu.tw

熱載子注入- 維基百科,自由的百科全書 - Wikipedia

這裡「熱」這個術語是指用來對載子密度進行建模的有效溫度,而非器件本身的溫度。 ... 熱載子效應的原理: 當MOSFET的通道長L很小時, 也就是short-channel(短通道) ...

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利用閘二極體量測法評估雙閘極金氧半電晶體的熱載子和負偏壓溫度 ...

最後,我們將利用上述的新方法針對在n型金氧半電晶體以及p型金氧半電晶體的熱載子效應和負偏壓溫度效應進行研究。在基極熱載子偏壓測試方面,可以經由這新的 ...

https://ir.nctu.edu.tw

熱載子注入- Wikiwand

這裡「熱」這個術語是指用來對載子密度進行建模的有效溫度,而非器件本身的溫度。 ... 熱載子效應的原理: 當MOSFET的通道長L很小時, 也就是short-channel(短通道) ...

http://www.wikiwand.com

熱載子與負偏壓溫度不穩定性導致深次微米及奈米pMOSFET劣化之研究

中文關鍵詞:, 熱載子 ; 負偏壓溫度不穩定性 ; p通道金氧半場效應電晶體 ; 最劣化 ... 經不同溫度與應力電壓的實驗證明,三種世代下,最劣化情況皆是發生在高溫下的 ...

https://ir.lib.ntut.edu.tw