probe card
MPI探針卡是各種半導體生產測試的成熟解決方案，包括晶圓大批量生產（HVM）。 基於改進的“屈曲光束”技術- 眼鏡蛇，這些卡適用於焊盤圖案，如全陣列，半陣列， ... , Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的 ...
| 相關軟體 AIDA64 Extreme Edition 資訊 | |
|---|---|
 probe card 相關參考資料
探針卡- 维基百科，自由的百科全书
https://zh.wikipedia.org Probe Card
MPI探針卡是各種半導體生產測試的成熟解決方案，包括晶圓大批量生產（HVM）。 基於改進的“屈曲光束”技術- 眼鏡蛇，這些卡適用於焊盤圖案，如全陣列，半陣列， ... https://www.mpi.com.tw 積體化探針卡技術介紹:Probe card,測試系統與研發工具 - CTIMES
Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的 ... https://www.ctimes.com.tw Cantilever Probe Card
MPI懸臂式探針卡(Cantilever Probe Cards)全球市佔率排名第1，廣泛應用於各客戶的銲墊(pad)及金凸塊(gold bump)測試，藉由不斷的技術創新以因應半導體晶圓 ... https://www.mpi.com.tw Cobra Probe Card
MPI Cobra探針卡是各種半導體生產測試的成熟解決方案，包括晶圓大批量生產（HVM）。 基於改進的“屈曲光束”技術- 眼鏡蛇，這些卡適用於焊盤圖案，如全陣列， ... https://www.mpi.com.tw 邏輯IC | Probe Cards | LCD Driver Probe Card
MPI's probe cards are used in wafer tests with small pad size, quad-site shelf ... These probe card are using for high parallelism, which reduce the cost of test ... https://www.mpi.com.tw 增強型垂直探針卡解決方案80（EVS80™） - Enhanced Vertical ...
MPI proudly introduces Enhanced Vertical Solution 80 (EVS80™) to the production probe card market. Where typical vertical probe card technologies have ... https://www.mpi.com.tw 晶圓探針卡製造| Parametric Probe Card
MPI Parametric（WAT）探針卡適用於：超低漏電低電容小尺寸焊盤。 並行測試：MPI懸臂探針卡可輕鬆執行帶有對角線或擱板應用的多DUT配置，實現無與倫比的對準 ... https://www.mpi.com.tw Logic Probe Card
MPI邏輯探針卡已做好準備：精細間距小尺寸焊盤尺寸多行交錯焊盤佈局多重DUT（對角線或貨架）高引腳數低擺動高速高低溫測試. https://www.mpi.com.tw Vertical Probe Card | 中華精測
垂直探針卡為精測在晶圓測試推出的重要產品，其包含許多精測領先業界的先進技術。垂直探針卡（Vertical Probe Card）為晶圓未切割前，IC未完成封裝前的重要測試 ... http://www.cht-pt.com.tw |