icp oes限制
ICP-OES vs ICP-MS: 兩種技術的比較 ... ICP-MS可以測量由高溫氬離子電漿產生的元素離子質量。在電漿中產生的 ... 應用範圍; 分析規格; 優點; 技術限制; 產業應用. ,侦测讯号：光子(OES)或者离子(MS); 侦测元素：最多70种元素; 侦测限制条件：ppb; 深度分辨率：块材技术; 影像/mapping：否. 优点. 使用单一分析方法可以测定许多 ...
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ICP-OES - Agilent
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