icp oes問題
ICP-MS 則可以避免類似的問題，且其偵測極限較ICP-OES更低 ... 雖然ICP 儀器皆使用高解析度的光學系統及背景校正設計以減少此種干擾，但在 ..., OES的化學性干擾較少，且光譜干擾可選擇無干擾的譜線範圍來分析或是藉由程式軟體來修圖，另外還有添加內標來校正、多變數基質修正法來獲得 ...
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ICP -OES (感應耦合電漿原子放射光譜儀) - 嘉富億科技股份有限公司
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