ellipsometry中文

橢圓偏振技術(ellipsometry)是一種多功能和強大的光學技術,可用以取得薄膜的介電性質(複數折射率或介電常數)。它已被應用在許多不同的領域,從基礎研究到工業應用 ... ,椭圆偏振技术(ellipsometry)是一种多功能和强大的...

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橢圓偏振技術(ellipsometry)是一種多功能和強大的光學技術,可用以取得薄膜的介電性質(複數折射率或介電常數)。它已被應用在許多不同的領域,從基礎研究到工業應用 ... ,椭圆偏振技术(ellipsometry)是一种多功能和强大的光学技术,可用以取得薄膜的介电性质(复数折射率或介电常数)。它已被应用在许多不同的领域,从基础研究到工业应用 ...

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橢圓偏振技術- 維基百科,自由的百科全書

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椭圆偏振技术- 维基百科,自由的百科全书

椭圆偏振技术(ellipsometry)是一种多功能和强大的光学技术,可用以取得薄膜的介电性质(复数折射率或介电常数)。它已被应用在许多不同的领域,从基础研究到工业应用 ...

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中文:椭圆偏振测量术;英文:ellipsometry

简称“偏振测量术” “椭偏术”。利用椭圆偏振光在遇到样品被反射散射或透射时,其偏振状态的改变而实现的一种测试技术。常用于测量薄膜的厚度、折射率等光学常数,并广泛用于 ...

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椭圆偏振光谱仪:基本概念

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