d0 yield公式

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d0 yield公式

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Defect Density (D0) - WikiChip

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IC 多樣產品之生產線製造能力評估

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http://nhuir.nhu.edu.tw

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整合良率預估及缺陷樣式辨識之晶圓缺陷診斷系統

(Compound Poisson Yield Model)雖然預測的良率較卜瓦松良率模式準確,但模式 ... 一般的良率模式為單位面積的缺陷密度與晶片面積的函數[14],其公式可表.

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良率(yield)是半導體積體電路業者進行獲利評估的一個重要指標,為了能快速、有效地且 ... 晶片面積,D0 表示缺陷密度,. 0 ... 便,所以他建議以下列公式來計算α 值:.

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行政院國家科學委員會專題研究計畫期中進度報告 - 國立交通 ...

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