atpg occ

所以,OCC电路实现了在shift阶段和capture阶段对时钟(PLL/ATE)进行选择的 ... [ATPG]set_atpg -capture_cycles d 中的d(数字)代表什么意思?, SCAN 技术,也就是ATPG 技术-...

atpg occ

所以,OCC电路实现了在shift阶段和capture阶段对时钟(PLL/ATE)进行选择的 ... [ATPG]set_atpg -capture_cycles d 中的d(数字)代表什么意思?, SCAN 技术,也就是ATPG 技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是: ... 2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC (on chipclocking)模块,同时 ...

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扫描测试(又叫ATPG)。scan path。 ... Clock MUX必须放在OCC模块/DFT MUX之前。 2. 时钟大于50MHz时,使用OCC模块,否则使用DFT MUX。

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[DFT] OCC(On-Chip Clocking)电路的实现- SH_UANG的专栏m(R2 ...

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浅谈DCAC SCAN测试_专业集成电路测试网-芯片测试技术-ic test

SCAN 技术,也就是ATPG 技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是: ... 2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC (on chipclocking)模块,同时 ...

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DFT 与ATPG 的低功耗设计原理与分析 - 电子设计工程

(clock divider)将OCC 的时钟分为4 个clock 域,若用上述提 ... 摘要: 文中介绍了在DFT 与ATPG 阶段均可通过各自的方法来达到降低测试功耗的目的, 以实际项目为 ...

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OCC(On-Chip-Clock)含義及功能- IT閱讀 - ITREAD01.COM

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[DFT] OCC(On-Chip Clocking)電路的實現- 台部落

OCC(On-Chip Clocking)電路的實現在做SCAN的時候,由於ATE時鐘速度和芯片port的傳輸速度 ... ATPG debug要熟悉TetraMAX工具的一些功能。

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DFT测试-OCC电路介绍- 大海在倾听- 博客园

SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain ...

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Logic Design for Single On-Chip Test Clock Generation for N ... - IJRECT

Automatic test pattern generation (ATPG) for transition and stuck- at test have ... transition test for each clock domain they requires one OCC per clock domain.

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DFT_with_OCC_on_SoC | System On A Chip | Parameter (Computer ...

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