atomic force microscopy中文
2019年6月24日 — AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之後發明的一種具有原子級高 ... ,第2章. 原子力顯微鏡基本原理. (Atomic Force Microscpoic：AFM). AFM簡介. 奈米技術(Nanotechnology) 是指在奈米尺度(1nm到10nm之間)上研究物質(包括原子及 ...
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原子力顯微鏡（一） | 科學Online
2009年8月30日 — 原子力顯微鏡(Atomic Force Micricopy, AFM)（一） 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學洪連輝教授責任編輯. A. 原子力 ... https://highscope.ch.ntu.edu.t 一文看懂原子力顯微鏡(AFM) - 每日頭條
2019年6月24日 — AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之後發明的一種具有原子級高 ... https://kknews.cc AFM-原子力顯微鏡基本原理
第2章. 原子力顯微鏡基本原理. (Atomic Force Microscpoic：AFM). AFM簡介. 奈米技術(Nanotechnology) 是指在奈米尺度(1nm到10nm之間)上研究物質(包括原子及 ... http://web1.knvs.tp.edu.tw 原子力顯微鏡(AFM) - iST宜特
2017年7月10日 — 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM），主要原理是藉由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂樑產生微細位移，以測得樣品表面形貌 ... https://www.istgroup.com 靜電力顯微鏡- 維基百科，自由的百科全書 - Wikipedia
靜電力顯微鏡（英語：Electrostatic Force Microscopy，簡稱EFM）是一種利用測量探針與樣品的靜電交互作用，來表徵樣品表面靜電位能，電荷分布以及電荷輸運 ... https://zh.wikipedia.org AFM-原子力顯微鏡原理
由於STM侷限於試片的導電性質，使得應用範圍大大的減少，為了能有更廣泛的應用科用，故改用力場作回饋而發展出原子顯微儀（atomic force microscope, AFM） ... http://web1.knvs.tp.edu.tw 原子力显微镜- 维基百科，自由的百科全书
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM），也称扫描力显微镜（Scanning Force ... 您现在使用的中文变体可能会影响一些词语繁简转换的效果。 https://zh.wikipedia.org 原子力顯微鏡- 維基百科，自由的百科全書 - Wikipedia
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