WLR test

由 C Ryu 著作 · 2001 · 被引用 13 次 — The wafer level reliability (WLR) electromigration (EM) test is a quick test under ...

WLR test

由 C Ryu 著作 · 2001 · 被引用 13 次 — The wafer level reliability (WLR) electromigration (EM) test is a quick test under very highly accelerated conditions using a parametric tester and prober ... ,Measuring Wafer-Level Reliability Course 將介紹晶圓級穩定性(WLR) 測試,以及如何將PXI 電源量測單元(SMU) 和受測裝置(DUT) 等硬體與WLR Test Software 整合。

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Construct 2
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WLR test 相關參考資料
ACS晶圓級可靠性(WLR)測試系統_百度百科

這為用户提供了最大的測試靈活性,用户不必使用一種方案進行柵氧完整性分析,同時使用另一套系統進行金屬互連可靠性測試。無論是測試厚柵氧,還是測試先進的柵疊層,用户只 ...

https://baike.baidu.hk

Experimental comparison of wafer level reliability (WLR) ...

由 C Ryu 著作 · 2001 · 被引用 13 次 — The wafer level reliability (WLR) electromigration (EM) test is a quick test under very highly accelerated conditions using a parametric tester and prober ...

https://ieeexplore.ieee.org

Measuring Wafer-Level Reliability Course

Measuring Wafer-Level Reliability Course 將介紹晶圓級穩定性(WLR) 測試,以及如何將PXI 電源量測單元(SMU) 和受測裝置(DUT) 等硬體與WLR Test Software 整合。

https://www.ni.com

New Test Tendency of Reliability of Semiconductor Devices

With the WLR method, users only need to place the wafer directly on the test machine to complete the testing. With the PLR method, users have to cut the wafer ...

https://www.star-quest.com

Wafer Level Reliability (WLR)

MPI Probe Systems provide reliable thermal system and ability to assure stable contact over time for long term WLR testing and minimization of cost of test.

https://www.mpi-corporation.co

Wafer Level Reliability (WLR) Software 21.0 - YouTube

https://www.youtube.com

Wafer Level Reliability Testing – A Critical Device and ...

由 I AGREATERMEASUREOFCONF 著作 · 1998 — The data generates a line that can be used to predict device lifetime under normal operating conditions (upper left portion of the curve). Common WLR tests th...

https://download.tek.com

什麼是WLR Test Software?

Wafer-Level Reliability (WLR) Test Software 可讓您存取NI 靈活的大規模平行參數測試系統,縮短測試週期時間並加快資料深入分析的速度。此應用軟體包含測試定序器、 ...

https://www.ni.com

晶圓級可靠度(WLR) - Wafer Level Reliability

晶圓級可靠度(WLR)係元件在特定狀態下經過一定時間測試後,其電性規格仍保持高一致性之能力。積體電路完成設計且初版晶矽製作完成後,便會進行晶圓級可靠度(WLR) ...

https://www.mpi.com.tw

高效能、高穩定性的晶圓級測試系統

2017年10月31日 — 使用PXI建構平行WLR系統的好處之一,就是可以運用內含最新多核心Intel處理器的控制器。 此外,機箱背板可在處理器與模組之間進行低潛時通訊,並透過數位 ...

https://www.digitimes.com.tw