MBIST JTAG
由 Y Lu 著作 · 2016 · 被引用 1 次 — In this paper, a design of memory built-in self-test based on JTAG interface circuit applied in Power line communication chip is implemented with SMIC ... ,2019年2月16日 — 測試目標是IO-PAD，利用jtag介面互連以方便測試。（jtag介面，實現不同晶片 ... at-speed 就是實速測試， 主要用於scan測試－即AC測試，和mbist測試。
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A MBIST controller based on JTAG interface ... - IEEE Xplore
由 Y Lu 著作 · 2016 · 被引用 1 次 — In this paper, a design of memory built-in self-test based on JTAG interface circuit applied in Power line communication chip is implemented with SMIC 0.18 ... https://ieeexplore.ieee.org A MBIST controller based on JTAG interface applied in power ...
由 Y Lu 著作 · 2016 · 被引用 1 次 — In this paper, a design of memory built-in self-test based on JTAG interface circuit applied in Power line communication chip is implemented with SMIC ... https://ieeexplore.ieee.org DFT，可測試性設計--概念理解- IT閱讀
2019年2月16日 — 測試目標是IO-PAD，利用jtag介面互連以方便測試。（jtag介面，實現不同晶片 ... at-speed 就是實速測試， 主要用於scan測試－即AC測試，和mbist測試。 https://www.itread01.com MBIST DFT测试概念- 华为云
2021年2月7日 — 1. 边界扫描测试；boundary scan test。测试目标是IO-PAD，利用jtag接口互连以方便测试。（jtag接口，实现不同芯片之间的互连。这样 ... https://www.huaweicloud.com MBist是不是都是JTAG控制的？ - 微波EDA网
烦请大牛们解答一下，如果不用JTAG控制，有别的办法吗？先声明一下，不是大牛。并不是所有的mbist都需要由jtag控制的。事实上很多设计中mbist有单独的管脚的。bistmode ... http://ee.mweda.com SOC中的DFT和BIST對比與比較-IC學習筆記（二） - IT閱讀
2018年8月6日 — ... 和JTAG/Boundary Scan等技術開發、設計各類自動化測試設備。 ... BIST技術大致可以分兩類： Logic BIST(LBIST) 和Memory BIST (MBIST). https://www.itread01.com 基于JTAG的MBIST设计实现(全文)
2019年8月22日 — 摘要：边界扫描（BSD，有时也称为JTAG）和存储器内建自测试（MBIST）是两种常用的集成电路可测试设计技术，然而如何有效处理MBIST产生的众多管脚是DFT ... https://www.wenmi.com 基于JTAG的MBIST设计实现_百度文库
2012年11月18日 — 基于JTAG的MBIST设计实现- CIC 中国集成电路China lnte gra te d Circult 设计基于J T AG 的MB IS T 设计实现范长永摘要： ... https://wenku.baidu.com 面向前端设计的DFT基础介绍（一）——MBIST存储器内建自测试
2019年12月24日 — MBIST测试中，只需要从机台通过JTAG标准接口下达测试的指令，就可以从TDO接口获取测试结果。 为什么要进行内建自测试呢？原因主要有：. a）存储器在很小的 ... https://developer.aliyun.com |