CMP 製程參數

標題: 化學機械研磨時控製程參數最佳化技術. CMP Time-Optimal Process Control Technique. 作者: 周孟賢 · Chao, MengShian. 關鍵字: OST 正交自調法. CDS...

CMP 製程參數

標題: 化學機械研磨時控製程參數最佳化技術. CMP Time-Optimal Process Control Technique. 作者: 周孟賢 · Chao, MengShian. 關鍵字: OST 正交自調法. CDST ,that during the CMP process, it could achieve the purpose to improve the ... 它除了有Preston 方程式裡的壓力和速度等製程參數外,還包括晶圓硬度、研磨墊硬度、 ...

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CMP (chemical mechanical polish) 化學機械研磨是半導體製程中非常重要 ... 有時候研磨參數沒有調整好或slurry、disk、CMP pad 的搭配不佳,就 ...

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化學機械研磨時控製程參數最佳化技術

標題: 化學機械研磨時控製程參數最佳化技術. CMP Time-Optimal Process Control Technique. 作者: 周孟賢 · Chao, MengShian. 關鍵字: OST 正交自調法. CDST

http://ir.lib.nchu.edu.tw

化學機械研磨製程空氣背壓對晶圓應力分佈和表面不平坦度的 ...

that during the CMP process, it could achieve the purpose to improve the ... 它除了有Preston 方程式裡的壓力和速度等製程參數外,還包括晶圓硬度、研磨墊硬度、 ...

http://lib.hdut.edu.tw

博碩士論文行動網 - 全國博碩士論文資訊網

論文名稱: 化學機械研磨時控製程參數最佳化技術. 論文名稱(外文):, CMP Time-Optimal Process Control Technique. 指導教授: 王國禎. 學位類別: 碩士. 校院名稱 ...

https://ndltd.ncl.edu.tw

國立交通大學機構典藏- 交通大學

研磨墊修整器(Pad Dresser)為CMP 製程維持長時間穩定晶圓移除率和均勻性的 ... Sung[9]等學者發表的論文中也提到,在CMP 設備與製程參數確定之後,拋光墊.

https://ir.nctu.edu.tw

國立台灣科技大學機械工程系碩士學位論文化學機械拋光之拋光 ...

經由Oxide CMP 顯示碎形圖案拋光墊在低下壓力,因具有高的. 表面承載因子(Sbi), ... 其中各項獨立的參數又會有不同程度的影響到CMP 製程中的化學和. 機械作用。

http://140.118.196.11

探討化學機械研磨之最適化製程參數

In this paper, a 2D axisymmetric finite element model for chemical-mechanical polishing process. (CMP) was established. In this model, the five-layer structures ...

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行政院國家科學委員會專題研究計畫成果報告 - eTop-工程科技 ...

助建立化學機械研磨機發展、設計及CMP 製程參數調控的準則。 關鍵字:混合潤滑、界面現象、微觀接觸、晶圓平坦化. 1. 前言. 由於超大型積體電路隨著線幅不斷細小 ...

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