錫遷移

本論文報導覆晶封裝之銲點中電遷移所引起之銅墊層快速溶解現象。實驗之試片. 包含組成為錫鉛共晶之銲點,這些銲點接合了矽晶片與印刷電路板。在矽晶片端. ,摘要. 電遷移效應對金屬導線的影響,一直被人們重視,近年來由於半導體與微機電工. 業之興起...

錫遷移

本論文報導覆晶封裝之銲點中電遷移所引起之銅墊層快速溶解現象。實驗之試片. 包含組成為錫鉛共晶之銲點,這些銲點接合了矽晶片與印刷電路板。在矽晶片端. ,摘要. 電遷移效應對金屬導線的影響,一直被人們重視,近年來由於半導體與微機電工. 業之興起,大電流對微細化電路之影響,顯得特別重要,本文針對微細之錫導線.

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無鉛銲料錫銀鉍銦與銅電極之電遷移研究

標題: 無鉛銲料錫銀鉍銦與銅電極之電遷移研究. Study+of+Electromigration+on+lead-free+tinsilver-Bismuth-indium+Solder+with+cu+Electrodes. 作者: 江昱彥

http://ir.lib.nchu.edu.tw

覆晶封裝中電遷移效應導致之銅溶解現象

本論文報導覆晶封裝之銲點中電遷移所引起之銅墊層快速溶解現象。實驗之試片. 包含組成為錫鉛共晶之銲點,這些銲點接合了矽晶片與印刷電路板。在矽晶片端.

http://www.mse.ntu.edu.tw

覆晶接點與錫電路之電遷移微結構變化模式研究

摘要. 電遷移效應對金屬導線的影響,一直被人們重視,近年來由於半導體與微機電工. 業之興起,大電流對微細化電路之影響,顯得特別重要,本文針對微細之錫導線.

http://www.mse.ntu.edu.tw

銅與銅鎳金導體上錚錫遷移性之比較

135~ 144 (2004). 銅與銅/鎳/金導體上錚錫遷移性之比較. 林景崎*、林修任、蘇茂華、李勝隆. Comparison of Electrolytic Migration for Solders Coated on Cu and.

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銲料- 维基百科,自由的百科全书

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電子遷移(Electromigration) | 電子製造,工作狂人(ResearchMFG)

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