成大eds
與EDS成分分析深度差異在於EDS為um等級而歐傑電子為nm等級成分分析，因此對於表面分析是 ... 成大自強校區儀器設備大樓B1 『歐傑電子能譜儀實驗室（B110）』 ... ,Ultra-high resolution field-emission Scanning Electron Microscope with EDS and ... 本儀器結合日本HITACHI SU-5000熱場效型高解析場發射型掃描式電子顯微鏡、美國EDAX能量散射光譜儀(EDS)及電子背 ... 成大自強校區儀器設備大樓二樓0206室.
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 成大eds 相關參考資料
成大化工HRFESEM - 成大化工系
能提供金屬材料、電子材料及高分子材料等於高倍率下之二次電子影像(SEI)及背反電子影像(BEI)之表面型態觀察。本機台同時配置有能量分散光譜儀(EDS)能做元素 ... http://www.che.ncku.edu.tw 歐傑電子能譜儀
與EDS成分分析深度差異在於EDS為um等級而歐傑電子為nm等級成分分析，因此對於表面分析是 ... 成大自強校區儀器設備大樓B1 『歐傑電子能譜儀實驗室（B110）』 ... http://www.ncku.edu.tw 多功能超高解析場發射型掃描式電子顯微鏡
Ultra-high resolution field-emission Scanning Electron Microscope with EDS and ... 本儀器結合日本HITACHI SU-5000熱場效型高解析場發射型掃描式電子顯微鏡、美國EDAX能量散射光譜儀(EDS)及電子背 ... 成大自強校區儀器設備大樓二樓0206室. http://www.ncku.edu.tw 國立成功大學貴重儀器使用中心
科技部國立成功大學貴重儀器使用中心之成立，係為響應政府所倡導「物盡其用，人盡其材」之號召，切實配合各研究機構之特殊需要。早期由國立成功大學與國立中山 ... http://www.ncku.edu.tw 高解析場發射掃描式電子顯微鏡 - 成功大學
本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜分析儀(EDS)所組成。能提供試件樣品在高/低加速電壓之掃描觀察可獲得超高解析 ... http://www.ncku.edu.tw 高解析度掃瞄式電子顯微鏡 - 成功大學
本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜分析儀(EDS)所組成。 能提供試件樣品在高/低加速電壓之掃描觀察可獲得超高 ... http://www.ncku.edu.tw 高解析掃描式電子顯微鏡 - 成功大學
本儀器並配置能量分散式光譜儀（Energy Dispersive Spectrometer 簡稱EDS）及可作元素（Boron 以上）之定性及半定量分析，並提供了真空鍍膜設備服務。 http://www.ncku.edu.tw 高解析分析電子顯微鏡 - 成功大學
本儀器配備有STEM球像差修正器、STEM檢測器、HAADF檢測器、EDS能量散佈分析儀、 EELS電子能量損失光譜分析儀、CCD數位影像系統、3D-Tomography電子 ... http://www.ncku.edu.tw |