微 探 針

半導體產業使用之陣列懸臂式微探針卡之微探針材料,有一半以上使用錸鎢合金細線製作而成,而錸鎢合金微探針材料有兩種型態:一為矯直後裁切至特定長度, ... ,微探針. 《商品介紹》:. 應用:半導體積體電路測試. 材質: 鎳、鎳合金....

微 探 針

半導體產業使用之陣列懸臂式微探針卡之微探針材料,有一半以上使用錸鎢合金細線製作而成,而錸鎢合金微探針材料有兩種型態:一為矯直後裁切至特定長度, ... ,微探針. 《商品介紹》:. 應用:半導體積體電路測試. 材質: 鎳、鎳合金. 厚度: 50~80μm. *尺寸依客戶需求提供客製化服務。 更多圖片. 語言:. English, 中文.

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25. 微機電陣列式晶圓探針卡

目前晶圓級的探針卡主要可分為三種形式,分別為. 環氧樹酯探針卡(Epoxy Ring Probe Card)、垂直式探針. 卡(Vertical Probe Card)與微機電式探針卡(MEMS Probe.

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Airiti Library華藝線上圖書館_微探針素材矯直技術與矯直機械開發

半導體產業使用之陣列懸臂式微探針卡之微探針材料,有一半以上使用錸鎢合金細線製作而成,而錸鎢合金微探針材料有兩種型態:一為矯直後裁切至特定長度, ...

http://www.airitilibrary.com

利佳精密科技股份有限公司- 商品- 微探針

微探針. 《商品介紹》:. 應用:半導體積體電路測試. 材質: 鎳、鎳合金. 厚度: 50~80μm. *尺寸依客戶需求提供客製化服務。 更多圖片. 語言:. English, 中文.

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半導體測試用微機電探針(MEMS probe for IC testing)

提供<2.5毫英吋(mil)測試用微探針( Micro probe for IC testing ). ' more. 產品類型. 產品特色. 聯絡方式. more. 測試用微探針( Micro probe for IC testing ) ○Cobra ...

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國立交通大學機構典藏:微探針的分析、設計與製造

關鍵字: 微探針;probe. 公開日期: 2007. 摘要: IC晶圓片在製造完成後,都會立即進行裸晶測試或預燒(Burn-in)的製程,以期將不良品(Bad die)在封裝前即予剔除, ...

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微垂直探針卡之設計與製作 - 逢甲大學財稅系

2002 年Bong-Hwan Kim 等人的論文中,以(100)的單晶矽晶片為基材,配合. 面型和體型微加工技術,製作三度空間的微探針卡,如圖1.10 所示。規格為間. 距大約 ...

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微距探針- 精研微科技 - 精研微科技股份有限公司

針對電子元件引腳窄化趨勢,為確保信賴性,高精密探針不可缺。 利用本公司精密加工及組裝技術,實現可對應80umPitch探針之製作。 1.為使達到Fine Pitch目的 ...

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探針卡 - 政府研究資訊系統GRB

本計劃乃是製作及組裝CMOS 相容微機電高頻探針卡的技術。主要包含一RF CMOS 晶片與一印刷電路板,該RF CMOS 晶片係使用標準CMOS-MEMS 製程技術 ...

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電子微探針- 維基百科,自由的百科全書 - Wikipedia

電子微探針(英語:Electron microprobe,縮寫EMP),也被稱為電子探針顯微分析(electron probe microanalyzer,EPMA)或電子微探針分析儀(electron ...

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