封裝測試機
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在進入封裝前，先行過濾出電性功能不良的晶片，以避免不良品增加製造成本。 半導體製程中，針測製程只要換上不同的測試配件，便可與測試製程共用相同的測試機 ... http://www.taiwan921.lib.ntu.e |