冷場發射掃描式電子顯微鏡
分析原理：. 冷場發射掃瞄式電子顯微鏡（Field Emission-Scanning Electron Microscopy, FE-SEM）是利用入射電子束與試樣產生的二次電子或背向散射電子等來成像 ... ,中文名稱, 冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器(SEM SU-8010), 英文名稱, Cold Field Emission Scanning Electron Microscope (Hitachi SU8010) ...
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冷場發射掃描式電子顯微鏡 FE-SEM
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