交大 XPS

重要規格:(1) XPS (ESCA): X-ray光源: monochromatic X-ray source (Al Anode ) X光光束可設定範圍為200μm~900μm (2) 能量分析儀器:180°球面扇狀分析器(SSA) ,...

交大 XPS

重要規格:(1) XPS (ESCA): X-ray光源: monochromatic X-ray source (Al Anode ) X光光束可設定範圍為200μm~900μm (2) 能量分析儀器:180°球面扇狀分析器(SSA) ,2023年5月31日 — ... 交大校區,國科會基礎研究核心設施;X ... (XPS/AES);儀器位置:材料系工程六館EF215 ... 抽真空速率:~30分鐘. 功能. XPS表面成份定性及定量分析; XPS化學 ...

相關軟體 mIRC 資訊

mIRC
mIRC 是一個功能齊全的互聯網中繼聊天客戶端,可用於在多用戶群組會議中或在一對一的私人討論中與其他人在 IRC 網絡上進行交流,分享,播放或與他人合作.It 文件傳輸,多服務器連接,IPv6,SSL 加密,代理支持,UTF- 8 顯示,UPnP,可定制的聲音,口頭消息,托盤通知等功能。消息日誌等等.mIRC 也有一個強大的腳本語言,可以用來自動化 mIRC 和創建應用程序,執行從網絡通信到玩遊戲... mIRC 軟體介紹

交大 XPS 相關參考資料
X-ray Photoelectron and Auger Electron Epectroscopy

重要規格: (1) XPS (ESCA): X-ray光源: monochromatic X-ray source (Al Anode ) X光光束可設定範圍為200μm~900μm (2) 能量分析儀器:180°球面扇狀分析器(SSA)

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X光光電子暨歐傑電子能譜儀

重要規格:(1) XPS (ESCA): X-ray光源: monochromatic X-ray source (Al Anode ) X光光束可設定範圍為200μm~900μm (2) 能量分析儀器:180°球面扇狀分析器(SSA)

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X光光電子暨歐傑電子能譜儀(XPSAES) | 國立陽明交通大學 ...

2023年5月31日 — ... 交大校區,國科會基礎研究核心設施;X ... (XPS/AES);儀器位置:材料系工程六館EF215 ... 抽真空速率:~30分鐘. 功能. XPS表面成份定性及定量分析; XPS化學 ...

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X射線光電子能譜儀

2022年2月10日 — 英文名稱, X-ray Photoelectron Spectrometer, XPS/ESCA ; 功能說明. l 表面分析(Surface survey):樣品表面之成份分析。 l 表面化學組態分析(Narrow scan) ...

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以X射線光電子能譜儀研究生長於銻磷砷化銦上之原生氧化層 ...

由 黃芷琳 著作 · 2015 — 本論文的研究主題為以X射線光電子能譜儀(XPS)研究生長於銻磷砷化銦上之原生氧化層特性。利用peak area ratio、VFF model、valence band spectra、氧化物厚度、氧化物 ...

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儀器列表-X光光電子暨歐傑電子能譜儀(XPSAES)

XPS (ESCA):. X-ray光源: monochromatic X-ray source ... XPS元素影像掃描XPS Mapping; UPS紫外光光電子掃描 ... 交大校區. 地址:. 30010新竹市大學路1001號(浩然圖書 ...

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國家科學及技術委員會-基礎研究核心設施預約服務管理系統

XPS XPS. 高解析度螢光影像流式細胞儀 ImageStreamX Mark II. 物理性質量測系統儀 Physical Property Measurement System. 核磁共振影像/光譜儀 Bruker S300/Bruker ...

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國科會基礎研究核心設施| 材料領域Material Field - 儀器資源中心

交大校區,NSTC basic research core facility 國科會基礎研究核心設施( ... X光光電子暨歐傑電子能譜儀(XPS/AES). X光光電子暨歐傑電子能譜儀(XPS/AES) 工程 ...

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基礎服務-材料領域-X光光電子暨歐傑電子能譜儀(XPSAES)

XPS (ESCA):. X-ray光源: monochromatic X-ray source ... XPS元素影像掃描XPS Mapping; UPS紫外光光電子掃描 ... 交大校區. 地址:. 30010新竹市大學路1001號(浩然圖書 ...

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歐傑電子顯微鏡與X光光電子能譜儀之表面分析特性

由 沈奕伶 著作 · 2014 · 被引用 1 次 — 在科技發達的時代,表面分析之檢測技術愈顯得重要,本文主要以應用層面較廣及檢測分析項目上相似度接近的歐傑電子顯微鏡(AES)與X光光電子能譜儀(XPS)分析技術來說明。

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