交大材料sem

Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM. ,功能. 1.電子顯微鏡觀察(SEM):高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構. 2.表面能階分析(EDS):特定位置表面材料成...

交大材料sem

Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM. ,功能. 1.電子顯微鏡觀察(SEM):高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構. 2.表面能階分析(EDS):特定位置表面材料成分電子能階光譜分析,用以判斷表面.

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儀器設備-國立交通大學材料科學與工程學系所

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冷場發射掃描式電子顯微鏡-國立交通大學材料科學與工程學系所

Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM.

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冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器(SEM SU-8010)

功能. 1.電子顯微鏡觀察(SEM):高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構. 2.表面能階分析(EDS):特定位置表面材料成分電子能階光譜分析,用以判斷表面.

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招生資訊-國立交通大學材料科學與工程學系所

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貴重儀器@ 國立交通大學研究發展處

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