tem前處理

在FIB橫截面的TEM樣品製備上,有三種作法:預先薄化法(Pre-Thin)、靜電吸取法(Lift-out)、探針取出法(Omni-probe)。至於FIB的選擇,則取決於樣品的分析需求。 ,樣品製備> TEM 樣品前處理. 搜尋. ...

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在FIB橫截面的TEM樣品製備上,有三種作法:預先薄化法(Pre-Thin)、靜電吸取法(Lift-out)、探針取出法(Omni-probe)。至於FIB的選擇,則取決於樣品的分析需求。 ,樣品製備> TEM 樣品前處理. 搜尋. 第二代精密離子減薄系統. PIPSII , 695 · 離子薄片機. IB-09100IS · 冷卻式離子薄片機. IB-09060CIS · 超音波切割機 601 · TEM 樣品 ...

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