surfscan原理
Puma 9980、CIRCL5 和Surfscan SP5能夠及早識別各種生產線、製程及工具監控應用上的良率偏差，協助晶片製造商加快產能提升，並最大限度地 ..., KLA-Tencor公司推出Voyager 1015與Surfscan SP7兩款全新缺陷檢測產品，在矽晶圓和晶片製造領域中針對尖端邏輯和記憶體節點，為設備和製程 ...
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Puma 9980、CIRCL5 和Surfscan SP5能夠及早識別各種生產線、製程及工具監控應用上的良率偏差，協助晶片製造商加快產能提升，並最大限度地 ... https://www.ctimes.com.tw KLA-Tencor推出兩款缺陷檢測產品 - Digitimes
KLA-Tencor公司推出Voyager 1015與Surfscan SP7兩款全新缺陷檢測產品，在矽晶圓和晶片製造領域中針對尖端邏輯和記憶體節點，為設備和製程 ... https://www.digitimes.com.tw KLA-Tencor推出新型Surfscan SP3缺陷與表面品質檢測系統
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今年KLA-Tencor 推出四款新的系統──2920系列、Puma 9850、Surfscan SP5 和eDR-7110 — 為16nm 及以下的晶片研發與生產提供更先進的 ... https://archive.eettaiwan.com SurfscanSP2 - KLA-Tencor
THE SURFSCAN SP2 WAFER SURFACE INSPECTION SYSTEM provides the increased ... tool ever introduced, the Surfscan SP2 features UV illumination. https://www.kla-tencor.com 如何裝著很懂半導體晶圓製造？ - 每日頭條
答：利用IPA(異丙醇)和水共溶原理將晶圓表面的水份去除. 測Particle時,使用何種測量儀器? 答：Tencor Surfscan. 測蝕刻速率時,使用何者量測儀器? https://kknews.cc 實現製造生產力改善以及降低測試晶圓成本 - YMS Magazine
Surfscan SP2 檢測系統的使用能夠減少生產成本，藉由延長某些監控晶圓重新使用的壽命，並且減少新測試晶圓的. 需要。對於大型的晶圓代工廠，這個新技術能夠 ... https://www.ymsmagazine.com 量測設備銷售 KLA - 虹鳴科技股份有限公司
KLA-Tencor Surfscan 6420. 產品介紹：. Equipment description: ‧Purpose: Unpatterned Surface Inspection System, to monitor: Bare silicon wafers and bare ... http://www.omni-semitech.com |