積體電路測試技術
第三章開路與短路測試 開路與短路測試(Open/Short test)，也稱為連續性測試(Continuity test)或稱連接測試(Contact test)。此測試項目的主要目的， ..., 第二章半導體測試基本概念 半導體產品，一般稱為積體電路。英文稱為Semiconductor Device。Device在中文意義為『設備』或『裝置』。然而對『設備』 ...
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(P107133) 積體電路測試技術 - 國立交通大學電子工程系人才培訓中心
本課程為積體電路測試技術課程，期讓學員深入瞭解測試技術。邀請測試領域的專家，詳細介紹傳統與最先進的測試與可測試設計技術。學員在學習之後，不但能夠解決 ... http://submic.ee.nctu.edu.tw A 半導體積體電路測試概論第三章開路與短路測試 - 白安鵬
第三章開路與短路測試 開路與短路測試(Open/Short test)，也稱為連續性測試(Continuity test)或稱連接測試(Contact test)。此測試項目的主要目的， ... http://ictesting-tom.blogspot. A 半導體積體電路測試概論第二章半導體測試基本概念 - 白安鵬
第二章半導體測試基本概念 半導體產品，一般稱為積體電路。英文稱為Semiconductor Device。Device在中文意義為『設備』或『裝置』。然而對『設備』 ... http://ictesting-tom.blogspot. A 半導體積體電路測試概論第八章電路特性分析 - 白安鵬
第八章電路特性分析 對電路做特性分析(Device Characterization)的目的，是要找出電路在正確操作情況下，各種參數條件的極限值。通常我們會 ... http://ictesting-tom.blogspot. P107133 積體電路測試技術 - 國立交通大學電子工程系人才培訓中心
本課程為積體電路測試技術課程，期讓學員深入瞭解測試技術。邀請測試領域的專家，詳細介紹傳統與最先進的測試與可測試設計技術。學員在學習之後，不但能夠解決 ... https://submic.ee.nctu.edu.tw 一般公告-台大慶齡積體電路測試技術課程 - 國立臺北科技大學
期限:2004/02/24至2004/03/21 作者:管理人員. 執行單位 台大嚴慶齡工業研究中心上課時間 3/27、4/10、4/17、4/24、5/1 週六09:00-12:00，13:30-16:30 共30小時 ... https://www.ee.ntut.edu.tw 博客來-積體電路測試實務
書名：積體電路測試實務，語言：繁體中文，ISBN：9789572157749，頁數：216，出版社：全華圖書，作者： ... 半導體元件物理與製作技術-第三版. https://www.books.com.tw 天瓏網路書店-積體電路測試實務, 2e
書名：積體電路測試實務, 2/e，ISBN：9864635158，作者：廖裕評、陸瑞強，出版社：全華圖書，出版日期：2017-04-26. https://www.tenlong.com.tw 白安鵬--半導體積體電路測試技術部落格
敬讀者: 感謝大家多年來的關注,也實在很抱歉,缺圖的章節,我會提供pdf檔給各位,請用gmail私下交流! 原因是,筆者對網頁編排實在沒有涉略,也很偷懶 ... http://ictesting-tom.blogspot. 白安鵬--半導體積體電路測試技術部落格: 2019
ENDINITIAL 量測電路板初始化. GOTO START 程式從頭開始. END. 4-2測試程式模組化的設計. 你可以一個指令接一個指令的來撰寫測試程式。 http://ictesting-tom.blogspot. |